跟著電子技術的展開，電子產品的集成化程度越來越高，結構越來越纖細，工序越來越多，制造工藝越來越凌亂，這樣在制造進程中會發作一些匿伏缺陷。電子產品高低溫試驗箱電子產品在出產制造時，因規劃不合理、原材料或工藝方法方面的原因引起產品的質量問題概括有兩類。

    第一類是產品的性能參數不合格，出產的產品不符合運用要求； 第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的檢驗方法發現，而需求在運用進程中逐漸地被顯露，如硅片表面污染、組織不穩定、焊接空泛、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

    一般這種缺陷需求在元器件作業于額定功率和正常作業溫度下工作一千個小時左右才華全部被激活（顯露）。顯著，對每只元器件檢驗一千個小時是不現實的，所以需求對其施加熱應力和偏壓，例如進行高溫功率應力試驗，來加速這類缺陷的提前顯露。

    也就是給電子產品施加熱的、電的、機械的或多種概括的外部應力，仿照嚴厲作業環境，消除加工應力和剩下溶劑等物質，使匿伏缺陷提前出現，從速使產品通過失效浴盆特性初期階段，進入高可靠的穩守時。

    通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝置等出產進程中存在的風險提前顯露，老化后再進行電氣參數測量，選擇除去失效或變值的元器件，盡可能把產品的前期失效消除在正常運用之用，從面保證出廠的產品能經得起時間的檢測。